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公开时间: 1995-03-22      申请时间: 1993-11-16
申请人: TECH

CN1100522A
patent for invention


标题(英语)

High-temperature superconductive thin film microwave surface resistance testing instrument and method


摘要(英语)

The present invention belongs to the techn field of superconductance electronics, and the said instrument comprises test base, sample to be tested, holder plate, sealing top and two calibration parts. Owing to its fixed test stand, resonant TE 001+ delta cube mode, "zero surface resistance" calibration utilizing symmetrical structure and the formula Qo=A+BRs proposed, the present invention realizes high-sensitivity and high-accuracy non-destructive measurement of Rs, the microwave surface resistance of superconductive thin film.


申请人详细信息

序号 名称 数据格式
1 TECH docdb

发明人详细信息

序号 名称 数据格式
1 JIAN LU docdb
2 QISHAO ZHANG docdb

法律状态

序号 日期 法律代码 详细信息
1 19950322 C06 PUBLICATION
2 19970924 C10 ENTRY INTO SUBSTANTIVE EXAMINATION
3 20000301 C14 GRANT OF PATENT OR UTILITY MODEL
4 20020109 C19 LAPSE OF PATENT RIGHT DUE TO NON-PAYMENT OF THE ANNUAL FEE

文档历史

公开时间: 1995-03-22
CN1100522A
申请时间: 1993-11-16
CN93115387

CPC分类


IPC分类

G01R27/02

专利家族

4991012

被引非专利信息

引用阶段 文档类型 文档信息

被引专利信息

标题 发明人 申请人 公开号/公开日期
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